搜索结果: 1-9 共查到“实验地质学 X射线荧光光谱法”相关记录9条 . 查询时间(0.328 秒)
薄膜吸附制样-波长色散X射线荧光光谱法测定卤水中的溴
卤水 溴 薄膜吸附 X射线荧光光谱法
2015/12/22
溴主要以离子形式分布在地壳水圈的溴化物型卤水、卤化物硫酸盐型卤水中, 目前应用波长色散X射线荧光光谱(WDXRF)测定卤水中的溴, 主要采用粉末载体压片法前处理待检样品, 制样工作量大, 制样均匀性和制样过程中的污染都会影响准确度, 方法实用性不强。本文借助薄膜吸附前处理卤水样品, 通过优化筛选薄膜材料及卤水取样量, 确定移取50 μL卤水样品滴于Ф=40 mm的3#层析滤纸的圆心位置, 自然晾干...
X射线荧光光谱法测定土壤样品中碳氮硫氯等31种组分
X射线荧光光谱法 多元素测定 粉末压片 土壤
2014/6/20
利用新型的ZSX Primus Ⅱ型X射线荧光光谱仪采用粉末压片法直接测定土壤样品中的C、N、S、Cl等31种元素。各元素分析晶体为N采用RX45，C采用RX61，Na、Mg采用RX25，C1、S、P采用Ge，Si、Al采用PET，其余元素均采用LiF200。结果表明，方法的检出限、精密度和准确度对绝大多数元素而言，均可满足多目标地球化学调查样品分析的质量要求。
用百分总和检查硅酸盐岩石全分析数据的质量是分析工作者的传统做法,但对于微量元素含量较高的样品,采用X射线荧光光谱法(XRF)进行测定,如果不考虑微量元素的含量及其对主量元素基体效应的影响,往往会使主量元素含量更加偏离真实值。本文针对Sr、Ba含量较高的硅酸盐样品,通过人工配制标准样品,扩大了Sr、Ba校准曲线的定量范围,主量元素校准中加入Sr、Ba的基体校正系数,达到了主量元素定量更加准确可靠的实...
熔片制样-X射线荧光光谱法测定煤灰样品中主次量组分
X射线荧光光谱法 煤灰 熔融片
2014/6/16
采用混合熔剂熔融制备样片，用Axios X射线荧光光谱仪测定煤灰样品中二氧化硅、氧化铝、氧化铁、氧化镁、氧化钙、氧化钠、氧化钾、二氧化钛、二氧化锰、五氧化二磷和三氧化硫等11种组分。重点研究了熔样比、熔样温度和标准样品的制备，解决了分析硫的难题。用基本参数法校正基体效应，分析方法的精密度（RSD，n=10）各组分均小于3%。用煤灰国家一级标准物质验证，结果与标准值相符。
熔融制片-X射线荧光光谱法测定磷矿石中主次量组分
X射线荧光光谱法 主次量组分 熔融片 磷矿石
2014/6/16
采用四硼酸锂-偏硼酸锂混合熔剂熔融制备样片，用Axios 型X射线荧光光谱仪测定磷矿石样品中五氧化二磷、氟、二氧化硅、三氧化二铝、总三氧化二铁、氧化镁、氧化钙、氧化钠、氧化钾、二氧化钛、氧化锰、氧化锶和硫等13种组分。重点试验了熔样比、熔样温度和标样制备。用基本参数法校正基体效应，分析方法的精密度（RSD，n=10）除二氧化钛、氟和硫分别小于10.8%、6.0%及10.2%外，其余各组分均小于4....
X射线荧光光谱法同时测定钛精矿中主次量组分
X射线荧光光谱法 主次量组分 钛精矿
2014/6/16
采用铁矿标准样品和高纯二氧化钛混合配制钛精矿的校准样品，X射线荧光光谱法同时测定钛精矿中氧化镁、三氧化二铝、二氧化硅、磷、硫、氧化钙、二氧化钛、五氧化二钒、锰、铁等主次量成分，并对熔剂选择、熔融条件、钒 Kα峰位确定及基体效应校正等进行了探讨。测定结果与标准样品标称值吻合，相对标准偏差(RSD，n＝7)除低含量的磷、硫外均在5％以下，能满足钛精矿的检测需要。
采用偏硼酸锂和四硼酸锂混合熔剂熔融法制样，波长色散X射线荧光光谱法测定铜精矿中铜、铅、锌、硫、镁、砷，考察了熔剂、玻璃化试剂和预氧化条件对制样的影响。采用理论α系数和经验系数相结合的方法校正元素间的效应。测定铜精矿试样各组分的相对标准偏差(RSD，n=12)均小于3%，结果与化学分析法吻合。
X射线荧光光谱法同时测定石灰石中主次痕量组分
X射线荧光光谱法 主次痕量组分 同时测定 石灰石 熔融玻璃片 粉末压片 射线荧光光谱法 同时测定 石灰石 痕量组分 Major Determination Fluorescence Spectrometry Limestone Components Trace 相对标准偏差 化学 标准值 结果 分析 标准样品 射线荧光光谱仪 基体效应 干扰 谱线
2014/6/19
采用熔融玻璃片和粉末压片法制样,选用标准样品,以经验α系数和散射线内标法校正元素谱线重叠干扰和基体效应,用ZSX Primus Ⅱ X射线荧光光谱仪对石灰石样品中CaO、Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、K2O、TFe2O3、P2O5、TiO2、MnO和S等主次痕量组分进行测定,分析结果与标准值和化学值相符,12次测定的相对标准偏差小于10%.
分析了用X射线荧光光谱法（XRF）测定大气颗粒物样品（TSP）中Al、Na、Cl、Mg、Cu、zn、Ca、S、Fe、Mn、K、Pb、Cd、Ba等无机元素结果的不确定度来源，对石英滤膜颗粒物样品无机元素含量测量不确定度进行了评估。计算结果表明，XRF测定中无机元素薄膜标样示值误差和工作曲线拟合误差是测量结果不确定度的主要来源。对计算测量不确定度的公式合成法和蒙特卡洛（Monte Carlo）模拟法的...