搜索结果: 1-5 共查到“光学工程 半波电压”相关记录5条 . 查询时间(0.199 秒)
通过测量外加电压下电光晶体的相位延迟来获取半波电压.基于双折射晶体劈的偏光干涉法,将通过电光晶体后的偏振光相位延迟量转化为干涉条纹的平移,通过定位暗纹位置进行精密的线性测量.实验结果表明:偏光干涉法测量铌酸锂晶体相位延迟的测量准确度为4.4×10-3 rad,所测量铌酸锂晶体的半波电压为480.0 V,其测量误差为0.10%,远小于极值法0.96%的测量误差.偏光干涉法光路结构简单、测量准确度高、...
基于激光相控阵原理的相位调制器半波电压测量方法
半波电压 激光相控阵 相位调制 测量
2016/8/8
半波电压是电光相位调制器的一个重要指标, 针对现有半波电压测量方法存在的测量误差大、测量装置复杂等问题, 提出了基于激光相控阵光束扫描原理的半波电压测量方法.通过理论分析, 得到了远场主光束的偏移量和相位调制器半波电压的关系表达式.搭建了1×2 全光纤激光相控阵光路, 对铌酸锂波导相位调制器的半波电压进行了实验测量, 改变相位调制器的加载电压, 记录多幅远场光强分布图, 通过求平均值减小测量误差,...
测量 KDP（LN）晶体的半波电压和动态消光比
测量 KDP（LN）晶体 半波电压 动态消光比
2013/10/9
实验目的
1.学会测量 KDP（LN）晶体的半波电压和动态消光比的方法；
2.学会调整光路；
3.巩固关于电光效应和偏光干涉的理论知识。
电光调制晶体半波电压倍频测量方法的讨论
电光调制 半波电压 倍频法
2010/3/10
在电光调制晶体的半波电压倍频法测量中，基于晶体电光效应分析了不同偏压下输出信号与调制信号之间的线性与倍频关系，并利用计算机模拟分析了调制信号的调制幅度对倍频信号的影响，分析结果表明倍频信号受高阶谐波分量的干扰产生波形畸变，不利于晶体半波电压的倍频法测量。提出利用李萨如图形的对称性来确定电光调制的倍频位置，克服了调制幅度波形畸变问题的干扰。通过对半波电压不同测量方法的实验测量和对比分析，说明该方法可...