搜索结果: 31-42 共查到“工学 AFM”相关记录42条 . 查询时间(0.1 秒)
AFM技术在微生物腐蚀研究中的应用
原子力显微镜 原位观察 微生物腐蚀
2009/9/24
介绍了原子力显微镜(AFM)的工作原理、操作模式以及在微生物腐蚀研究中的应用，包括原位观察细菌和微生物膜形貌、测量力-距离曲线研究微生物在材料表面的粘附力、测量材料表面电位的不同得知生物膜厚度和腐蚀程度.同时还介绍了电化学原子力显微镜的应用.
研究了魔芋粉、魔芋辐照接枝聚合物及聚合物的再生产物的吸水特性，并对三者的三维表面形貌进行了原子力显微镜分析，以探索吸水性能与结构改变的相关关系。研究结果表明，改性后魔芋吸水倍数、速度和保水率随颗粒的细化和吸收液离子浓度的下降而上升，保水率还随环境温度的上升和胶体水分缓释时间的延长而下降。改性魔芋蒸馏水和自来水最大吸收倍数分别达887和273；最快吸收速度分别为64.7和27.6g•g－...
基于RTLinux的AFM实时反馈控制系统
原子力显微镜 RTLinux系统 反馈控制
2009/7/31
为了提高原子力显微镜(AFM)的测量性能，利用RTLinux良好的实时性，设计了一种开放式的反馈控制平台，完成了基于RTLinux的AFM实时反馈控制系统的软硬件设计，并在PC上具体实现这种实时反馈系统。测试结果表明，该系统能较好地实现AFM在Z方向上的实时反馈控制。利用该平台良好的开放性，可以将各种先进的控制方法应用于AFM系统中，以提高原子力显微镜的扫描速度和精度。此外，该基于RT-Linux...
快速与精确的AFM探针模型重构研究
原子力显微镜 探针盲建模算法 多孔铝 数学形态学
2013/9/2
在AFM扫描成像中, 由于探针具有展宽效应等因素, 导致扫描图像失真. 从数学形态学角度看, 可以认为真实图像失真是受到了探针针尖形貌卷积的作用, 因而不能反映样品表面的真实形貌. 采用反卷积运算处理可以排除这类扫描成像干扰, 但需要准确知道探针针尖形貌, 这对于AFM纳米扫描图像的精确重构具有实际意义. 在已有的探针建模算法中, 基于数学形态学的盲建模算法得到了广泛使用, 然而该算法存在运算时间...
Variation of Surface Adhesion Force During the Formation of OTS Self-assembled Monolayer Investigated by AFM
表面附着力 自组装单分子层 原子力显微镜
2009/3/19
Variation of the surface adhesion force during the formation of octadecyl trichlororilane (OTS) .self-assembled monolayer on a glass substrate surface was investigated hy atomic force microscope (AF...
谷胱甘肽和三氧化钨表面微观结构的AFM表征
谷胱甘肽 三氧化钨 AFM表征
2009/2/18
用AFM表征了络合锌的谷胱甘肽与三氧化钨溶胶掺铂晶化薄膜的表面分子结构,结果表明:络合锌的谷胱甘肽的分子为七连环状结构,七连环上的两个离子或离子基团与两条长链相连,一个离子或离子基团与一条短链相连;这解释了谷胱甘肽与Zn2+、Fe3+等过渡金属离子络合并使其被螯离,消除了其氧化性,从而提高了谷胱甘肽的抗氧化性.三氧化钨溶胶掺铂薄膜经460℃热处理后晶化,其元胞为正六面体,内含一个WO6八面体,氧离...
基于AFM的机器人化纳米操作中纳观力的初步研究
纳观力分析 力—距离曲线 机器人化纳米操作 原子力显微镜
2008/7/18
针对基于原子力显微镜(AFM)的机器人化纳米操作，对探针作用下探针—基片—微粒之间纳观力的作用规律进行了初步分析．指出起主要作用的纳观力为范德华力、接触斥力、纳米摩擦力、毛细作用力以及纳米静电力等五种，并初步推导了各种纳观力的表达形式．通过力—距离曲线仿真与实验验证了所进行分析的合理性；该分析有助于进行纳米操作的精确控制．
聚合物PDMS片表面特性的AFM和XPS初步研究
XPS AFM 表面特性 聚合物PDMS片
2008/5/6
本文用原子力显微镜（AFM），研究常用固化模具材料玻璃、有机玻璃（PMMA）和塑料制作的PDMS盖片的表面特性。并用XPS分析PDMS表面的化学组成，表明在优化的PDMS芯片制作条件下， PDMS芯片的自粘粘合力取决于盖片的表面粗糙度。
基于AFM的纳米机械刻蚀加工研究
纳米机械 刻蚀 分子动力学模拟 原子力显微镜
2008/3/24
结合原子力显微镜实验及分子动力学模拟，研究刻蚀加工机理，分析了针尖弹性模量、几何形状、磨损等工具因素，刻蚀力、进给量、加工速度等工艺因素，加工材料性质、表面质量等工件因素对加工的影响及作用机理。
AFM examination of sol–gel matrices doped with photosensitizers
atomic force microscope (AFM) sol–gel material nanostructure
2011/5/5
Various compounds may be entrapped into the sol–gel materials, including the photosensitive agents. The nanostructure of the final material depends on the matrix itself, as well as on the structural p...
OLEDs中CuPc缓冲层作用的AFM与XPS研究
缓冲层CuPc 原子力显微镜（AFM） X射线光电子能谱（XPS）
2007/12/18
摘要 利用AFM对CuPc/ITO样品表面进行扫描，发现其生长较均匀，基本上覆盖了ITO表面的缺陷，且针孔较少。通过样品表面和界面的XPS谱图分析，进一步证实了这一结果，同时发现，CuPc可以抑制ITO中的化学组分向空穴传输层的扩散。有利于器件的性能的改善和寿命的提高。
