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中国科学院微电子研究所专利：集成电路的测试装置
中国科学院微电子研究所 专利 集成电路 测试装置
2023/7/7
专利名称:集成电路的测试装置
专利类别:发明专利
申请号:201210576911.X
申请日期:2012-12-26
专利号:201210576911.X
第一发明人:谢朝辉;赵明琦;王德坤;刘海南;黑勇;周玉梅
实施情况:授权
专利证书号:201210576911.X
其它备注:硅器件中心
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中国科学院微电子研究所专利：一种数字电源及其输出电压控制方法
中国科学院微电子研究所 专利 数字电源 输出电压
2023/7/7
中国科学院微电子研究所专利：一种数字电源及其输出电压控制方法
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