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搜索结果: 1-15 共查到光学工程 检测系统相关记录81条 . 查询时间(0.349 秒)
一种数字成像管棒材缺陷无损探伤检测系统,其特征在于:所述的数字 成像管棒材缺陷无损探伤检测系统包括系统由待检工件台(1),上料传送 台(2),对接机构(3),高速检测台(4),分离机构(5),下料传送台(6), 分选机构(7),合格工件仓(8),不合格品仓(9),水循环系统(10),无 损检测仪器系统(11)和电气控制系统(12)。本发明的优点是:检测记录 能直观地显示出缺陷的大小和位置及其严重程...
中国科学院深圳先进技术研究院专利:毫米波成像扫描检测系统及其检测方法
中国科学院高能物理研究所专利:一种高精度高空间分辨长程面形检测系统
中国科学院西安光学精密机械研究所专利:一种WolterⅠ型非球面反射镜角分辨率检测系统及方法
中国科学院化学研究所专利:聚光式圆二色光谱检测系统的研制
中国科学院化学研究所专利:直流电场圆二色光谱检测系统的研制
新能源光伏场站发电组件是转化电能的主要设备,因外部因素或自身材质损耗在运行中会发生组串连接失效、二极管故障、隐裂、遮挡等影响电站发电效益的缺陷。而这类缺陷的显现方式是以热斑效应出现的,通过红外图像中色温和形状差异对热斑进行分析、处理来区分热斑产生的原因。而利用计算机信息处理技术可以提高光伏组件热斑检测效率,同时更加快速的统计、分类、汇总发电组件热斑效应对发电量影响的结果。这对电站运营中及时发现设备...
北京大学信息科学技术学院微纳电子学系陈中建教授领导ASIC实验室联合校友企业北京安酷智芯科技有限公司、博云视觉(北京)科技有限公司,基于自研高性能红外探测器和AI识别算法,攻关研制“双光融合高精准度高效智能体温检测系统”。该双光检测系统利用红外热成像提取人体温度,利用可见光进行人脸检测与跟踪,无黑体辅助时仍可实现多目标快速精准测温,并针对异常体温人员自动报警。目前系统已联调工作,测温精度等性能指标...
针对现有的管道缺陷检测技术不能同时对管道的形、貌缺陷进行检测与评估这一工程难题,在前期研究工作的基础上,设计了一种基于主动式全景视觉的管道内部缺陷检测系统,能够快速获取管壁密集点云的三维坐标,同时对内壁表面缺陷进行检测与评估。首先利用主动式全景视觉传感器(AODVS)实时获取内壁全景图像和激光横断面扫描全景图像,然后对管道内壁全景图像进行柱状展开、预处理和缺陷检测及分类等处理;然后对激光横断面扫描...
为了实现对光电编码器在动态状态下的误码检测,提高批量生产时对光电编码器的误码检测速度,设计了光电编码器动态误码检测系统。首先,对光电编码器误码产生原因进行了分析,并对光电编码器误码进行特征识别。其次,针对光电编码器误码的特征,采用微分方法对光电编码器进行动态误码检测。然后,搭建了光电编码器动态误码检测系统,设计了软硬件电路。最后,对所设计光电编码器动态误码检测系统进行实验验证。实验表明:所设计的动...
为了实现航天用O形密封圈的智能化全自动测量与检测,建立了双工位智能测量与检测系统,研究了大量程测量与曲面缺陷检测系统集成方案以及测量路径自主规划技术。首先,针对O形圈的柔性结构、曲面外形以及内径与截面直径之比跨度大的特点,提出基于多视场协同的双工位智能测量与检测方案,介绍了系统集成方法及其工作原理。然后,根据密封圈在大视场中的全景图信息及检测路径规划基本准则,导出了通用的小视场图像采集路径计算方法...
考虑Kayser-Fleischer( K-F)环自动检测系统可以用于威尔逊氏病(wilson's disease,WD)的辅助诊断,本文针对现有的威尔逊氏病检测方法均没有考虑光照及角膜老年环的影响,通过分析彩色图像中Kayser-Fleischer (K-F)环的分布特征,设计了K-F环自动检测系统。该系统通过对图像进行预处理获得目标检测候选区域,通过梯度响应最优算法精确检测K-F环的边界信息。...
针对板上芯片(COB)集成封装发光二极管(LED)补粉排测设备对光色参数检测的需求,研制了一套基于光纤光谱仪的LED快速光色检测系统。该系统包括光色参数检测模块、LED测试机械结构及显示模块等3个部分。光色参数检测模块主要由自制光谱仪构成,用于对测量获得的光谱数据进行计算,进而得出LED的光色参数。LED测试机械结构由积分球和可加装不同COB封装LED的夹具测试平台构成。基于该系统架构,可快速测量...
针对液压系统故障预测与诊断的需求,设计了简单有效的油液微小颗粒快速光学检测系统。采用光阻法进行颗粒检测;设计并制作了微流控检测芯片,利用ANSYS软件对聚焦区域进行了流体速度和流动轨迹仿真;在所搭建的光学检测系统上进行了颗粒检测计数实验和浓度检测实验,并结合光阻法检测原理对实验所得数据和信号进行了理论分析。实验结果表明:20μm颗粒的检测信号具有较高的信噪比。结合所编JAVA程序完成了相应的颗粒计...

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