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中国科学院合肥物质科学研究院专利：单粒子气溶胶紫外荧光分析光学测量装置
中国科学院合肥物质科学研究院 专利 单粒子 气溶胶 紫外荧光分析 光学测量
2023/12/13
中国科学院合肥物质科学研究院专利：单粒子气溶胶紫外荧光分析光学测量装置
中国科学院西安光学精密机械研究所专利：一种用于光学测量设备的轴系锁紧机构
中国科学技术大学利用光学天线实现亚纳米位移的光学测量（图）
中国科学技术大学 光学天线 亚纳米位移 光学测量
2020/6/30
中国科学技术大学微纳光学与技术课题组（http://staff.ustc.edu.cn/~lmno/）在纳米位移光学测量研究方面取得重要进展。课题组鲁拥华副教授和王沛教授利用光学天线与空间结构光场相互作用实现了亚纳米位移的测量，研究成果于2020年6月16日发表于国际知名物理学期刊《物理评论快报》[Phys. Rev. Lett. 124, 243901]。光学方法进行位移的精密测量具有精度高、非...
2017SPIE工业检验用光学测量系统会议（2017 Conference on Optical Measurement Systems for Industrial Inspection X）
2017 SPIE 工业检验用光学测量系统 会议
2017/4/25
2017SPIE工业检验用光学测量系统会议（2017 Conference on Optical Measurement Systems for Industrial Inspection X）。