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通过调制光谱这种基础的光学方法来研究Au-GaAs，Al-GaAs，Ni-GaAs的金属半导体界面的一些电学性质，并且加以比较，其中包括电场、费米能级扎钉和界面态密度等情况。这些界面是通过在SIN+ GaAs样品上沉积金属(Au，Al，Ni)生长成的。通过观察电反射谱来研究金属GaAs的界面电场和费米能级扎钉的情况，然后通过傅里叶变换这些所取得的电反射谱来分析这些材料的界面性质。通过测量氦氖激光器...