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ITO/Rubrene表面及界面的AFM和XPS研究
XPS Rubrene 化学位移 界面态
2014/3/16
采用原子力显微镜（AFM）和X射线光电子能谱仪（XPS）研究了氧化铟锡（ITO）/红荧烯（Rubrene）的形貌和表面、界面的电子态。AFM结果显示，ITO上的Rubrene膜有良好的均匀性。XPS结果表明:C1s谱有3个峰，位于282.50，284.70，289.30 eV，对应于C—Si、C O和C—C键。用氩离子束溅射表面，芳香碳对应的峰值逐渐增大，其他两个峰值迅速消失。随着表面O污染的去除...
Transport Properties and Optical Conductivity of the adiabatic Su-Schrieffer-Heeger model: a showcase study for rubrene based field effect transistors
Transport Properties Optical Conductivity of the adiabatic Su-Schrieffer-Heeger model
2010/11/25
Transport properties, spectral function and optical conductivity of the adiabatic one-dimensional Su-Schrieffer-Heeger (SSH) model are studied with particular emphasis on the model parameters suitable...
通过改变黄色荧光染料5,6,11,12-tetraphenylnaphthacene(Rubrene)的溶液浓度，研究了溶液的浓度改变对荧光小分子染料的发光光谱的影响。采用测试不同浓度Rubrene溶液光致发光(PL)的光谱强度手段，确定了溶液中染料的最佳浓度，即最大程度避免或减弱浓度效应(浓度猝灭)且光致发光强度最大时的溶液浓度。首先确定极限浓度的范围，然后通过测试范围内的不同浓度的PL光谱强度...